MDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測(cè)儀--少子壽命 參考價(jià)：面議
弗萊貝格的MDPpro（MDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測(cè)儀--少子壽命）系列主要用于測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查等，其非接觸式檢測(cè)和無(wú)...
少子壽命測(cè)試儀|束蘊(yùn)儀器 參考價(jià)：1000000
MDPspot少子壽命測(cè)試儀低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無(wú)需內(nèi)置自動(dòng)化?？蛇x手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品...
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+) 參考價(jià)：面議
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC...
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：1000000
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)x被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的注入范圍內(nèi)測(cè)...
MDPlinescan在線少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：1000000
MDPlinescan在線少子壽命測(cè)試儀靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長(zhǎng)的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
MDPmap晶圓片壽命檢測(cè)儀--少子壽命測(cè)試 參考價(jià)：面議
MDPmap（MDPmap晶圓片壽命檢測(cè)儀--少子壽命測(cè)試）是一個(gè)緊湊的離線臺(tái)式檢測(cè)設(shè)備，主要被設(shè)計(jì)用于生產(chǎn)控制或研發(fā)、測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息...
MDP在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
德國(guó)弗萊貝格MDPinlinescan（MDP在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)儀）是一款靈活的OEM設(shè)備，可以用于多種不同樣品的在線壽命測(cè)量：從單晶到多晶硅錠，從...
MDP高速晶圓片在線面檢測(cè)儀--少子壽命檢測(cè) 參考價(jià)：面議
MDPinline（MDP高速晶圓片在線面檢測(cè)儀--少子壽命檢測(cè)）是一種用于快速定量測(cè)量載流子壽命并集成掃描功能的檢測(cè)儀。通過(guò)工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，...
MDP晶錠在線面掃檢測(cè)儀--進(jìn)口少子壽命測(cè)試 參考價(jià)：面議
德國(guó)弗萊貝格儀器的MDPinline ingot（MDP晶錠在線面掃檢測(cè)儀--進(jìn)口少子壽命測(cè)試）系統(tǒng)是快速多晶硅晶錠電學(xué)參數(shù)特性測(cè)量工具。它是專(zhuān)為高通量工廠的單...
MDP微波探測(cè)光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命 參考價(jià)：面議
德國(guó)Freiberg Instruments的MDPicts（MDP微波探測(cè)光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命），非接觸且無(wú)損傷，用于溫度依賴(lài)的少數(shù)載流子壽命測(cè)量以...
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation） 參考價(jià)：面議
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀，用于c-Si太陽(yáng)能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測(cè)。
晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測(cè)量
MDPlinescan 參考價(jià)：面議
靈活的OEM設(shè)備，用于多種不同樣品的在線壽命測(cè)量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過(guò)程控制。標(biāo)準(zhǔn)軟件接口，易于連接到許多處理或自動(dòng)化系...
晶圓片在線面掃檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
晶圓片在線面掃檢測(cè)儀是一種用于快速定量測(cè)量載流子壽命并集成掃描功能的檢測(cè)儀。通過(guò)工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時(shí)間內(nèi)，就可以“動(dòng)態(tài)"測(cè)量出晶圓圖...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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